EMC Scanner硬體

使用Moritatek公司原創全方位磁通量探棒，以具體指出磁場的產生位置，量測範圍涵蓋150kHz~8GHz
多種測量模式
1.視像設定模式：適用於PCB
2.Jig 設定模式：適用於IC
3.點設定模式：適用於纜線與特定物件 雷射位移感應器
紅外線感應器測量每一個零件高度，在進行測量的同時，讓探棒與零件表面之間能夠保持在相同的工作間距。  
磁場探棒與電場探棒
高效能的原廠探棒能精確量測，另有許多種類型的磁場碳棒，內建不同尺寸的水平和垂直線圈，也有數種不同的電場探棒。 雙顯示圖像與雙游標
游標位置同步顯示 雜訊與影像同步顯示 被測物影像，與檢測結果顯示在同一畫面上像，兩個顯示區域中的兩個游標顯示相同座標位置。被測圖像和檢查結果可重疊顯示，這功能很容易地確認出產生磁場雜訊的位置。
 
檢測結果比較，在螢幕上可顯示四筆資料比較  
支援多種廠牌頻譜儀使用 WM7400規格
 

掃瞄範圍	W300mm x D300mm x H100mm
影像模式掃瞄範圍	W300mm x D215mm x H100mm (影像擷取範圍）
掃描方法	雷射範圍測定, 近場磁場探棒掃描
相機	自動對焦高解析相機 2M pixels
掃描頻率範圍	150kHz∼ 3.0GHz (standard) / 150kHz∼ 8.0GHz (Opt.150K~8G)
最小掃描移動距離	0.1mm
位置精確度 (X,Y,Z)	±0.01mm
位置精確度 (θ)	±1.0°
外觀尺寸	W490mm x D709mm x H620mm
重量	42kg (不包含電腦與頻譜儀)
輸入電壓	100V — 240 V AC
電力消耗	150VA
操作溫度	0-40℃
控制器	原廠專用電腦(內附檢測操作軟體).

 
WM7300規格
 

掃瞄範圍	W420 mm × D297 mm × H200 mm
影像模式掃瞄範圍	W420 mm × D297 mm × H200 mm (影像擷取範圍）
掃描方法	雷射範圍測定, 近場磁場探棒掃描
相機	自動對焦高解析相機 2M pixels
掃描頻率範圍	150kHz∼ 3.0GHz (standard) / 150kHz∼ 8.0GHz (Opt.150K~8G)
最小掃描移動距離	0.1mm
位置精確度 (X,Y,Z)	±0.01mm
位置精確度 (θ)	±1.0°
外觀尺寸	W850 mm × D770 mm × H890 mm
重量	60kg (不包含電腦與頻譜儀)
輸入電壓	100V — 240 V AC
電力消耗	150VA
操作溫度	0-40℃
控制器	原廠專用電腦(內附檢測操作軟體).

3D雜訊視覺化系統:WM9500
https://www.youtube.com/watch?v=RsMBVrn-TAc 使用簡單-適合多種環境與檢測物體
 
□ EMC 雜訊量測可用在諸如複雜的汽車引擎室、黑暗的卡車室內等，多種環境下進行檢測。
 
□ 3D 座標測量功能，使用紅外線偵測，讓單一產品組件或完整產品的 EMC 雜訊量測沒有不同照度與不同目標物的顏色的影響。
 
□ WM-9500 最吸引之處是透過易於操作手持探棒的機動性測量功能，擷取詳細和多邊資料 WM9500 擷取 EMC 的 3 維 X-Y-Z 座標
以紅外線感應目標物的電磁雜訊發生來源點
操作者可利用內建的高解析相機抓取視像到 PC 螢幕設定測量的區域
 下列功能得以獲取分析資料諸如 EMC 雜訊產生點 EMC 雜訊方向、頻率特性
□ 藉由手持探棒在螢幕上設定紅外線標誌
□ 在 PC 螢幕上設定 3D 網格 (從 1 公分到數十公分)
□ 手持式探棒可擷取 EMC 雜訊位置圖資料
□ EMC 雜訊地圖影像可顯示在電腦螢幕並可儲存結果
  3D Scanner測量概念 與相關儀器搭配使用!
 
測量應用1 :微波爐
源自微波爐所產生的2GHz EMC雜訊,EMC雜訊產生點在微波爐門邊的左側 測量應用2 : CCD相機的EMC雜訊屏蔽效率
 
電磁屏蔽效果的視覺確認,物體多種形狀的簡單測量
找出EMC雜訊的產生點,比較有無屏蔽的差異性 EMC 雜訊測量應用!